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DF-2000性能特点
1.测定元素：镁（Mg）-铀（U）元素
2.含量范围：1ppm-100%
3.样品形态： 固体、液体、粉末样品均可直接检测
4. 探  测  器：SDD（硅漂移探测器），速度快、精度高、稳定性好
5. 操作特点：一键式设计，操作界面简单
6. 安全性能：多层保护，彻底避免X射线对人体的辐射伤害
2 主要技术指标
DF-2000主要技术指标包括：探测器、一体化X射线发生器、主控单元
（1）探测器
DF-2000能量色散型X荧光光谱仪采用的探测器为SDD（硅漂移探测器），与Si-Li探测器相比，它无需液氮制冷，与Si-pin探测器相比，其在相同时间内计数是其10倍，大大缩短测量时间。
探测器-SDD
SDD：  硅漂移探测器，电制冷
典型分辨率：理论 129ev（1000CPS）,正常使用133ev(50000CPS)
输出计数率：100KCPS，远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右)
峰背比：>6000
铍窗厚度：8um Dura Be对轻元素有更好的透过率，独特的Dura技术 
铍窗特点：可以耐酸、碱腐蚀
处理器：数字电路，放大倍数，时间常数可任意设置

探测器寿命：  寿命长，其独特的Dura Be技术，保证探测器几年内真空不会被破坏，晶体不会被损伤，无需担心后期的维护费用
（2）一体化X射线发生器
输入电压：9-11VDC
输入电流：  0.5A
输出电压：50Kv，200uA
 * 大功率: 4W
稳定性: 8小时0.2%